三維光學檢測系統
產品詳情
三維光學檢測系統
PO小型3D光學影像測量儀 ╃·，是在三維投影掃描基礎上研發╃·，專門針對小型工件的逆向掃描和三維全尺寸的快速檢測▩│✘▩。
產 品 特 點
◆高精度測量╃·，點雲間距為:0.0250mm,0.05mm.0.1mm.0.15mm.曲面擬合精度更高▩│✘▩。
◆採用LED光源╃·，光源發熱小╃·，壽命長(3萬小時)╃·，可以長時間連續工作▩│✘▩。
◆採用全電動操作檯設計:電動升降立柱▩••、多軸運動臺▩│✘▩。
◆軟體功能強大╃·，具有點雲掃描▩••、自動拼接▩••、點雲處理▩••、比對檢測等功能▩│✘▩。
◆與IDP工業攝像機測顯系統配合使用╃·，可完成整體精度控制╃·，全自動拼接▩│✘▩。
技 術 參 數
| 型號 | PO32 | PO64 | PO32 | PO32 | ||
| 測量行程 | 32X24 | 64X48 | 128X96 | 192X 144 | ||
| 點雲間距 | 0.025 | 0.05 | 0.1 | 0.15 | ||
| 測量精度 | 0.008-0.01 | 0.012-0.018 | 0.02-0.025 | 0.025-0.028 | ||
| 軟體 | OMMPro | |||||
| 光源 | LED冷光源 | |||||
| 相機標定 | 採用工業數字相機測量 | |||||
| 標定板 | 採用編碼標定板 | |||||
| 掃描時間 | 單個幅面3-5秒 | |||||
| 光柵方式 | 外差多頻 | |||||
| 全自動拼接 | 採用工業近景攝影測量技術╃·，配合參考點框架 | |||||
| 保修期 | 一年 | |||||
應 用 領 域
廣泛應用於手機注塑零件及小型衝壓件▩••、珠寶▩••、手飾▩••、手錶▩••、戒指╃·，牙齒等小型尺寸測量
工廠裝置
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資質證書
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詢盤